安規(guī)測(cè)試儀用于電壓元、器件的耐壓測(cè)量試驗(yàn)（用交、直耐壓儀），如硅堆等。主要是用來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品是否漏電、是否接地良好、會(huì)不會(huì)傷害人身安的用，主要檢測(cè)項(xiàng)目有電壓、泄漏電、緣電阻和接地電阻。

1、 何謂耐壓測(cè)試?

耐壓測(cè)試是常見(jiàn)的安規(guī)測(cè)試之，常見(jiàn)的dielectric withstand、high potential、hipot test都是耐壓測(cè)試。耐壓測(cè)試的主要目的測(cè)試DUT(Device under Test)的緣能力。故當(dāng)設(shè)備在運(yùn)作時(shí)，對(duì)測(cè)試點(diǎn)施以壓，測(cè)試是否有緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生。

2 、在安規(guī)中緣有幾種類(lèi)型?

緣類(lèi)型分為四種:基本緣(Basic)、輔助緣(Supplementary)、雙重緣(Double)以及加強(qiáng)緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)可能因灰塵過(guò)多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹姡虼艘岔氁阅蛪簻y(cè)試判斷產(chǎn)品內(nèi)電路是否有沿面距離或緣不足等問(wèn)題。

3 、在AC耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要real current 的判斷?

AC輸出總電(total current)可能因份內(nèi)容抗而成與真實(shí)測(cè)試電(real current)之間的差異。電在輸出時(shí)，若受到較大容抗時(shí)，反應(yīng)電(reactive)會(huì)較大，而使得真實(shí)測(cè)試電相對(duì)變小。若無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量輸出電與加以補(bǔ)償，會(huì)成測(cè)試上的盲點(diǎn)。

4 、在DC耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩升時(shí)間?

DC耐壓測(cè)試通常會(huì)需要加上緩升時(shí)間以及放電時(shí)間，因?yàn)榇蠖嗟腄UT具有電容性而會(huì)導(dǎo)致充電電產(chǎn)生。為了使充電變位電(charge current)穩(wěn)定，需要緩升時(shí)間來(lái)緩沖，才不會(huì)因充電電而導(dǎo)致漏電過(guò)，而判斷為不良品(FAIL)。

5 、在做耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩降時(shí)間?

耐壓測(cè)試會(huì)使DUT充電，因此在耐壓測(cè)試結(jié)束時(shí)須段時(shí)間來(lái)行放電，優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)將放電時(shí)間減至較少，并且在未達(dá)放電標(biāo)準(zhǔn)前會(huì)明顯標(biāo)示危險(xiǎn)警告，以防止測(cè)試人員不當(dāng)接觸而受到電氣傷害。